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  • 普洛帝表面微粒分析仪P-III

    产品名称:普洛帝表面微粒分析仪P-III

    产品简介:普洛帝表面微粒分析仪P-III,分辨率达0.1微米,支持纳米级颗粒检测;通过实时监测表面污染,降低因颗粒导致的良率损失和可靠性风险;且配备静态采样模式,提升测量精度和稳定性;符合ISO-14644-9表面粒子控制标准,满足半导体制造中对洁净度的严苛要求。..

    产品型号:P-III 原产地:中国大陆 价格: ¥750000

  • 普洛帝表面颗粒计数器P-III

    产品名称:普洛帝表面颗粒计数器P-III

    产品简介:普洛帝表面颗粒计数器P-III采用界面技术,通过物理或气流方式将附着在关键表面的颗粒重新悬浮,便于后续检测。适用于晶圆、光学元件、精密电路板等对洁净度敏感的生产环节。并配备静态采样模式,提升测量精度和稳定性;符合ISO-14644-9表面粒子控制标准。..

    产品型号:P-III 原产地:中国大陆 价格: ¥750000

  • 普洛帝表面尘埃粒子计数器P-III

    产品名称:普洛帝表面尘埃粒子计数器P-III

    产品简介:普洛帝表面尘埃粒子计数器P-III采用界面技术,通过物理或气流方式将附着在关键表面的颗粒重新悬浮,便于后续检测。基于激光光学传感器和光散射原理,实时捕获悬浮粒子的散射光信号,实现单个粒子尺寸的精确分析。..

    产品型号:P-III 原产地:中国大陆 价格: ¥750000

  • 表面颗粒物检测仪

    产品名称:表面颗粒物检测仪

    产品简介:普洛帝表面颗粒物检测仪P-III采用界面技术,通过物理或气流方式将附着在关键表面的颗粒重新悬浮,便于后续检测。分辨率达0.1微米,支持纳米级颗粒检测;配备静态采样模式,提升测量精度和稳定性;符合ISO-14644-9表面粒子控制标准,满足半导体制造中对洁净度的严苛要求。..

    产品型号:P-III 原产地:中国大陆 价格: ¥750000

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